晶圓片表面檢測燈

更新時間：2024-03-20

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晶圓片表面檢測燈半導(dǎo)體表面瑕疵檢查燈表面檢查燈廠家黃綠光/白光檢查燈

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈185LE-AL系列是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），又叫半導(dǎo)體目檢燈，檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學(xué)鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統(tǒng)的照明設(shè)備和光學(xué)系統(tǒng)機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購成本。 PS-PH40，YP-250I表面檢查燈采用人眼敏感510-590NM之間波長光，來做簡單與明確的判別，可檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光，幾乎可檢測出塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達30萬LX，可以檢測1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的表面檢查燈，效用增強10倍PSVLX1-F5016半導(dǎo)體目檢燈可根據(jù)使用場景，使用便攜手持式或桌面式（上在底座上即可）。

由于沒有閃爍并且沒有眼睛疲勞，所以電子照明方法提高了可加工性。可以自由地進行調(diào)光，并可以選擇佳條件。通過采用柔性臂，可以自由調(diào)節(jié)光源的角度。可以在無塵室中使用。可以使用安裝支架分離光源。連續(xù)照明時，燈泡壽命為10,000小時。它可以切割500 nm或更短的波長，并且該波長不會給人眼造成負擔，因此使其成為視覺檢查光源的佳波長。

半導(dǎo)體晶片不管是自主加工生產(chǎn)還是外購，都要對其外表進行缺陷瑕疵檢查，避免瑕疵品在投入使用，從而導(dǎo)致成品成為不合格產(chǎn)品。上海峰志儀器有限公司用于半導(dǎo)體晶片表面缺陷瑕疵檢查燈以及測試系統(tǒng)主要技術(shù)指標如下：
1、測試精度：可檢測出1um以下的缺陷瑕疵
2、光源：人眼易于察覺的綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光
3、檢查系統(tǒng)帶工業(yè)相機，可拍攝瑕疵點
4、樣式靈活，可手持式和桌面放置解放雙手
5、可調(diào)節(jié)燈光照射范圍

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晶圓片表面檢測燈